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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
日本npinet硅晶圓缺陷檢查近紅外鹵素光源 PIS-UHX = 150 W 直流鹵素 + 即插濾片 + 光纖輸出，在 900-1 700 nm 波段為產(chǎn)線/實(shí)驗(yàn)室提供高穩(wěn)定、可定制的近紅外照明，輕松實(shí)現(xiàn)“可見光看不到”的內(nèi)部質(zhì)量檢測(cè)。
2025-12-16
經(jīng)銷商
122
Yamada山田光學(xué)玻璃基板劃傷缺陷檢查燈 本裝置用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板在制程中最耗時(shí)、最依賴人工的“最終表面”宏觀檢查，可快速發(fā)現(xiàn)異物、劃痕、研磨不均、霧斑、滑移等各類缺陷。 憑借高照度照明，可識(shí)別表面小至 0.2 μm 的微小顆粒。
2025-12-16
經(jīng)銷商
126
日本yamada山田光學(xué)光掩膜缺陷鹵素檢查燈 本裝置用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板在制程中最耗時(shí)、最依賴人工的“最終表面”宏觀檢查，可快速發(fā)現(xiàn)異物、劃痕、研磨不均、霧斑、滑移等各類缺陷。
2025-12-16
經(jīng)銷商
130
Yamada山田光學(xué)0.2μm微小顆粒識(shí)別鹵素?zé)? 本裝置用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板在制程中最耗時(shí)、最依賴人工的“最終表面”宏觀檢查，可快速發(fā)現(xiàn)異物、劃痕、研磨不均、霧斑、滑移等各類缺陷。
2025-12-16
經(jīng)銷商
98
Yamada山田光學(xué)潔凈室晶圓檢測(cè)鹵素光源 高亮度鹵素光源裝置是潔凈室內(nèi)半導(dǎo)體晶圓表面品質(zhì)管理的工具，憑借高照度照明，可識(shí)別表面小至 0.2 μm 的微小顆粒。
2025-12-16
經(jīng)銷商
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日本P.R.A.靜電卡盤ESC高壓電源 電壓可調(diào) 電極附近出現(xiàn)反極性電荷，陶瓷表面則感應(yīng)出同極性電荷。當(dāng)硅片靠近時(shí)，片內(nèi)誘導(dǎo)電荷與表面電荷相互吸引，產(chǎn)生吸附力。吸力大小與表面電荷量成正比，而電荷量由高壓電源精確控制。
2025-12-13
經(jīng)銷商
141
日本P.R.A.半導(dǎo)體靜電卡盤用高壓ESC電源 電極附近出現(xiàn)反極性電荷，陶瓷表面則感應(yīng)出同極性電荷。當(dāng)硅片靠近時(shí)，片內(nèi)誘導(dǎo)電荷與表面電荷相互吸引，產(chǎn)生吸附力。吸力大小與表面電荷量成正比，而電荷量由高壓電源精確控制。
2025-12-13
經(jīng)銷商
113
日本lightest薄膜樹脂缺陷透射檢查點(diǎn)光源 點(diǎn)光源高指向性，微小劃痕也能放大可見 高亮度、均勻照度，約60°寬照射角
2025-12-11
經(jīng)銷商
116
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