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PI、BCB薄膜研發(fā)高阻評估高電阻率計

PI、BCB薄膜研發(fā)高阻評估高電阻率計
測量絕緣材料、半導體薄膜、防靜電層等的高表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm），覆蓋 10³–10¹? Ω 的超寬量程，適用于研發(fā)、品管、FA 實驗室

產品型號：MCP-HT800
廠商性質：經銷商
更新時間：2025-11-21
訪問量：90

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詳細介紹

PI、BCB薄膜研發(fā)高阻評估高電阻率計
PI、BCB薄膜研發(fā)高阻評估高電阻率計
高電阻電阻率計
用途：測量絕緣材料、半導體薄膜、防靜電層等的高表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm），覆蓋 103–101? Ω 的超寬量程，適用于研發(fā)、品管、FA 實驗室

超寬量程單臺覆蓋

103 – 101? Ω（@ 1 V–1000 V），無需更換主機即可測防靜電薄膜到絕緣樹脂。

1 V–1000 V 可編程掃描

29 檔施加電壓，帶“自動電壓掃描"模式，一次獲得電阻-電壓曲線，便于研究材料的非線性、擊穿特性。

雙環(huán)電極 + 表面/體積切換

符合 JIS K 6911、ASTM D257 的同心雙環(huán)電極，標配 UR-SS 探頭；主機內置繼電器，一鍵完成表面 ? 體積電阻率切換，無需外接切換盒。

超低泄漏電流輸入

前置放大器輸入阻抗 > 2×101? Ω，最小分辨電流 0.1 fA，保證 101? Ω 量級仍具 ±2 % 精度。

樣品帶電自動放電

測量前/后自動施加反向電壓放電，防止靜電殘留導致誤差或擊穿。

溫濕度同步記錄

內置溫濕度傳感器，數據文件自動附帶 T/RH，方便進行 IEC 61340 標準條件下的電阻率對比。

多模式軟件

定時測量、斜坡掃描、階躍電壓、I-t 曲線、回讀電流-時間衰減，可用于評估材料極化、陷阱能級。

數據輸出

2000 組內部存儲 + USB 直接導出 CSV/PDF；可選 LAN 接口，與 LIMS 對接。

三、典型應用

防靜電包裝材料（袋、泡棉、周轉箱）表面電阻率 IEC 61340-5-1 認證測試
電子紙、OLED 絕緣層、TFT 鈍化層體積電阻率評價
光伏背板、封裝 EVA、POE 絕緣層 FA 分析
半導體/LED 封裝環(huán)氧樹脂、PI、BCB 薄膜高阻評估
功能性薄膜：透明絕緣層、阻水層、DLC 層擊穿特性掃描

四、技術規(guī)格

項目	參數
測量范圍	103 – 101? Ω（電流 1 mA – 0.1 fA）
施加電壓	1 – 1000 V，29 檔，步進 1 V（≤100 V）/ 10 V（>100 V）
電壓精度	±0.5 %
電流分辨率	0.1 fA
電極配置	同心雙環(huán)（主電極 φ50 mm，環(huán)電極 φ70 mm）
測量時間	1 – 999 s 可設，自動判定穩(wěn)定后保持
精度	±2 % @ 10? – 1013 Ω（23 ℃±5 ℃，45–65 %RH）
放電功能	測量前后自動反向放電，時間 1 – 999 s 可設
溫濕度記錄	內置傳感器，精度 ±0.5 ℃ / ±2 %RH
數據輸出	USB（CSV/PDF），可選 LAN
電源	AC100 – 240 V，50/60 Hz，約 60 W
尺寸/重量	330 × 300 × 120 mm，約 5 kg

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