日本myutron硅片缺陷檢查近紅外鹵素光源
日本myutron硅片缺陷檢查近紅外鹵素光源

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 寬波段照射：覆蓋400nm至1700nm的波段，波段為1000nm，適用于近紅外領(lǐng)域的檢查和測(cè)量。
• 濾光片兼容性：可安裝帶通濾光片，用戶可以根據(jù)需要選擇特定波段的濾光片。
• 多種光導(dǎo)類型：提供同軸類型、環(huán)形、背光類型、線形等多種光導(dǎo)選擇，滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景的需求。

應(yīng)用場(chǎng)景

• 工業(yè)檢測(cè)：在電子制造、半導(dǎo)體生產(chǎn)等領(lǐng)域，用于檢測(cè)可視光無法看到的缺陷或特征，例如硅片的缺陷檢測(cè)、電子元件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)檢測(cè)等。
• 材料分析：在材料科學(xué)中，用于分析材料的光學(xué)特性，如吸收、反射和透射等，有助于研究材料的成分和結(jié)構(gòu)。
• 生物醫(yī)學(xué)研究：在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，用于檢測(cè)生物組織的光學(xué)特性，如血液分析、細(xì)胞成像等，有助于疾病的診斷和研究。
• 食品檢測(cè)：在食品工業(yè)中，用于檢測(cè)食品的成分和質(zhì)量，例如檢測(cè)水果的成熟度、肉類的新鮮度等。

• 對(duì)應(yīng)波段：400nm – 1700nm(波段：1000nm)

• 150W鹵素?zé)魧?duì)應(yīng)近紅外領(lǐng)域照射

• 能安裝濾光片，配件能選擇需要波段的帶通濾光片

• 同軸類型，環(huán)形，背光類型，線形等，我們準(zhǔn)備有多種光導(dǎo)