日本ceramic forum晶片內(nèi)位錯檢測儀便攜式

日本ceramic forum晶片內(nèi)位錯檢測儀便攜式 Crystalline Tester CS1

"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測可見光（波長400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設(shè)備。通過本設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確地把握目檢下無法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài)。

產(chǎn)品型號：Crystalline Tester CS1
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2025-05-06
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日本ceramic forum晶片內(nèi)位錯檢測儀便攜式 Crystalline Tester CS1 特點(diǎn)介紹

"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測可見光（波長400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設(shè)備。

通過本設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確地把握目檢下無法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài)。

日本ceramic forum晶片內(nèi)位錯檢測儀便攜式 Crystalline Tester CS1 規(guī)格參數(shù)

產(chǎn)品特長高速測量（6" 襯底　90秒）

?可以最快速度簡捷方式觀察殘留應(yīng)力分布。

縱向結(jié)晶評價

?因?yàn)槭峭敢曅徒Y(jié)晶評價裝置，所以不只可以觀察襯底表面，還可以觀察包括Z軸方向的晶圓所有部位。

可取得與X-Ray Topography imaging comparison同等測試效果

?可以取得同等測試效果，實(shí)現(xiàn)高速低成本。

價格競爭力

?在晶片測量裝置中，屬于性價比好的一款系統(tǒng)。

可測量材料 SiC單晶襯底、及SiC外延襯底

GaN單晶襯底、及GaN外延襯底

AlN單晶襯底、及AlN外延襯底

可視光可透視、有雙折射效果的結(jié)晶均可。

測試效果不佳材料 ?無可視光透視性材料：Si、GaAs等

?無雙折射效果材料：藍(lán)寶石、Ga2O3 等

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