日本oji-keisoku超高相位差雙折射測(cè)量裝置 PAM-UHR100 特點(diǎn)介紹

本裝置以透明試樣為對(duì)象，通過(guò)平行尼可光譜法測(cè)定數(shù)千至2萬(wàn)nm左右的相位差及取向角。通過(guò)輸入薄膜厚度，自動(dòng)計(jì)算雙折射N(xiāo)。

■特點(diǎn)

測(cè)定方式

平行尼科耳分光

樣品尺寸

□40mm、厚度3mm以下

測(cè)定項(xiàng)目

相位差、取向角、雙折射

日本oji-keisoku超高相位差雙折射測(cè)量裝置 PAM-UHR100 規(guī)格參數(shù)

規(guī)格內(nèi)容測(cè)定對(duì)象透明拉伸膜（PC，PET等）測(cè)定項(xiàng)目相位差、取向角、雙折射（相位差范圍約800～20000nm）試樣尺寸□40mm厚度3mm以下系統(tǒng)結(jié)構(gòu)測(cè)定裝置主體、筆記本電腦（OS:Windows7/Vista/XP）溫濕度條件10～35°C、20～80%RH（但不結(jié)露）電源AC100V±10%、50/60Hz

偏光軸方位、配向角、位相差

測(cè)定対象

光學(xué)薄膜、偏振板

測(cè)定原理

旋轉(zhuǎn)檢光子法、平行二卷旋轉(zhuǎn)法、正交二卷旋轉(zhuǎn)方法

測(cè)定時(shí)間

約4秒（偏振軸測(cè)量）

測(cè)定波長(zhǎng)

590nm（可選=450nm、630nm等）

樣品尺寸

30mm~250mm，t=20mm以下

系統(tǒng)配置

測(cè)定裝置主體、光源裝置、筆記本電腦（Windows10）

主體尺寸

W380XH390 XD610 mm

本體重量

27kg